高功率激光器PER測(cè)試解決方案

  隨著流量高速增長(zhǎng)，相干技術(shù)會(huì)繼續(xù)下沉，相干光模塊的市場(chǎng)空間還是非常廣闊， 相干光模塊的研發(fā)和生產(chǎn)仍然會(huì)是產(chǎn)業(yè)的一個(gè)新的方向和熱點(diǎn)。

  相干光模塊發(fā)送端的ITLA激光器市場(chǎng)需求也在加大， 偏振消光比(PER)是ITLA眾多測(cè)試需求中必不可少的一項(xiàng)，然而測(cè)試工程師面臨的一個(gè)難點(diǎn)就是PER測(cè)試設(shè)備的入射功率通常在10dBm以內(nèi)，因此，工程師需要額外增加一路分光器來滿足測(cè)試設(shè)備入射功率的限制。更重要的是， 光路中增加的光器件會(huì)引入更多的不確定性，并造成測(cè)試精度的惡化。

  如何解決呢?

  Santec 的偏振消光比測(cè)試儀 PEM-340可提供高功率的PER測(cè)試解決方案。PEM-340 高功率選項(xiàng)，入射光功率最高可達(dá)20dBm， 高功率激光器可以直接輸出到測(cè)試設(shè)備，完美解決之前需要引入其他分光器件的難度。

激光器PER測(cè)試搭建

PEM-340 性能指標(biāo)