測(cè)試案例 | VIAVI力助中國(guó)電信開(kāi)拓創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)G.654E長(zhǎng)距離高速傳輸型光纖測(cè)試

  ICC訊 2021年9月22日，中國(guó)電信建成業(yè)界首條全G.654E陸地干線光纜，并完成了業(yè)界首次基于G.654E光纜的400Gb/s超長(zhǎng)距現(xiàn)網(wǎng)傳輸試驗(yàn)。

  中國(guó)電信在國(guó)內(nèi)率先建成該干線光纜，推動(dòng)了G.654E產(chǎn)業(yè)鏈的成熟，對(duì)干線光纜網(wǎng)從G.652D邁入G.654E新型光纖時(shí)代具有引領(lǐng)作用，對(duì)建設(shè)綠色低碳全光網(wǎng)絡(luò)具有積極且重要的示范意義。

400G+需求使G.654.E

成為超高傳輸技術(shù)光纖主流

  隨著5G時(shí)代的數(shù)據(jù)流量不斷增長(zhǎng)，承載網(wǎng)的數(shù)據(jù)傳輸和帶寬壓力不斷增加，骨干網(wǎng)傳輸速率將從100G不斷向200G/400G等更高速率升級(jí)。超100G網(wǎng)絡(luò)在整體市場(chǎng)份額中將超過(guò)60%，并且400G+將成為超100G網(wǎng)絡(luò)的主流應(yīng)用。從骨干網(wǎng)層面來(lái)看，單波400G即將開(kāi)啟，并進(jìn)入長(zhǎng)周期。

  因此，提前部署支持200G、400G系統(tǒng)的光纖光纜產(chǎn)品是建設(shè)高速信息網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)。但是，現(xiàn)網(wǎng)中使用的G.652光纖，已經(jīng)無(wú)法滿足未來(lái)光傳輸網(wǎng)絡(luò)超高速率、超大容量、超長(zhǎng)距離的傳輸需要。

  將視線回落到光纖技術(shù)的發(fā)展，其正呈現(xiàn)出三大趨勢(shì)：低/超低損耗光纖、大有效面積光纖、大有效面積和低/超低損耗光纖。

  國(guó)內(nèi)廠商在選擇技術(shù)路徑時(shí)，基本都選擇了將大有效面積和低/超低損耗結(jié)合，而同時(shí)滿足超低損耗和大有效面積兩大特性的超低損耗大有效面積G.654.E光纖是400G/1T系統(tǒng)的最佳選擇。

G.654.E光纜的熔接機(jī)熔接及測(cè)試需求明顯提升

  G.654.E光纖更具優(yōu)勢(shì)，但在部署過(guò)程的工程方面卻有不少困難，主要反饋熔接一次成功率低，導(dǎo)致光纜接續(xù)時(shí)間長(zhǎng)。通過(guò)分析，主要原因來(lái)自于：

  1、環(huán)境因素，工程反映不同季節(jié)熔接成功率差異大，車(chē)內(nèi)施工有利于改善質(zhì)量;

  2、裝備原因，熔接機(jī)自動(dòng)接續(xù)模式下，熔接損耗缺乏穩(wěn)定性。

  G.654.E較寬泛的模場(chǎng)直徑——不同廠家纖芯互熔產(chǎn)生較大接續(xù)損耗(高達(dá)0.2dB)。

  G.654.E的大有效面積——某些熔接機(jī)無(wú)法準(zhǔn)確識(shí)別纖芯、包層，需要設(shè)為包層對(duì)準(zhǔn)、甚至多模模式才能熔接，對(duì)熔接損耗有潛在影響。

  G.652.D和G.654.E在折射率剖面設(shè)計(jì)、模場(chǎng)直徑差異明顯——二者互熔存在熔接損耗過(guò)大、反射明顯。

  也正是因?yàn)镚.654.E光纜的熔接機(jī)熔接及測(cè)試需求明顯提升，更加精準(zhǔn)OTDR雙向測(cè)試驗(yàn)收成為必要選擇之一。

  熔接損耗數(shù)據(jù)：G.654和G.652熔接，比同種光纖熔接時(shí)大0.081dB(統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù))

  法蘭損耗數(shù)據(jù)：G.654和G.652之間法蘭鏈接耗損，比同種光纖法蘭連接時(shí)大0.102dB(統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù))

  雙向測(cè)試可消除光纖增益影響，測(cè)試熔接點(diǎn)實(shí)際損耗，科學(xué)輔助工程驗(yàn)收

  同時(shí)，測(cè)試過(guò)程中VIAVI獨(dú)家的“自動(dòng)真雙向測(cè)試”還提供了更優(yōu)的測(cè)試效果：更全面的光纖指標(biāo)及聯(lián)通測(cè)試;高效自動(dòng)化測(cè)試;測(cè)試實(shí)時(shí)給出雙向測(cè)試結(jié)果，方便即時(shí)處理故障并查找問(wèn)題。

  【VIAVI光纖測(cè)試產(chǎn)品組合】

  針對(duì)本次“G.654.E OTDR測(cè)試方案”、1550nm波長(zhǎng)結(jié)果分析、1625nm波長(zhǎng)結(jié)果分析、熔接增益及雙向測(cè)試、智能真雙向測(cè)試和G.654.E干線色散測(cè)試方案的全面測(cè)試過(guò)程和測(cè)試數(shù)據(jù)，請(qǐng)點(diǎn)擊獲取《G.654E長(zhǎng)距離高速傳輸型光纖測(cè)試案例分享》報(bào)告。