ICC訊 以往光頻域反射儀(OFDR)只有國(guó)外少數(shù)幾家公司擁有高端儀器,細(xì)分市場(chǎng)也被壟斷,國(guó)內(nèi)需求只能依靠國(guó)外進(jìn)口。昊衡科技自主研發(fā)了系列產(chǎn)品,其核心技術(shù)具有原創(chuàng)性和自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)國(guó)產(chǎn)商用化,解決了這一新技術(shù)的痛點(diǎn)問(wèn)題。
在通信測(cè)量領(lǐng)域,昊衡科技推出了OFDR商用產(chǎn)品OCI系列,該系列產(chǎn)品可用于實(shí)驗(yàn)室以及室外工程。系統(tǒng)自校準(zhǔn)無(wú)需人為干預(yù),穩(wěn)定性非常好,主要技術(shù)參數(shù)已經(jīng)處于國(guó)際領(lǐng)先水平,測(cè)量精度可達(dá)μm級(jí)別。
圖. OCI高精度的光學(xué)鏈路診斷儀
OCI系列產(chǎn)品
全功能的OCI能測(cè)量回?fù)p、插損、光纖長(zhǎng)度、光譜、群延時(shí)等;
簡(jiǎn)化版的OCI-T主要針對(duì)硅光芯片器件、光纖微結(jié)構(gòu)定量分析,品質(zhì)監(jiān)測(cè)及故障診斷;
OCI-L專(zhuān)用于光纖或光學(xué)鏈路長(zhǎng)度測(cè)量。
測(cè)試案例
1. 插入損耗測(cè)試
光纖鏈路通常包含多連接點(diǎn)、彎曲和多器件, OCI特有的分布式高精度插損測(cè)量能力,可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量并定位鏈路各事件點(diǎn)的插損。
案例中用可調(diào)衰減器在衰減2dB、3dB、5dB時(shí)重復(fù)測(cè)量10次,插損測(cè)量重復(fù)性誤差小于0.1dB。
2. 回波損耗測(cè)試
硅光鏈路具有高度集成性,傳統(tǒng)回?fù)p測(cè)試方案無(wú)法精確定位、測(cè)量硅光鏈路某一位置或器件回?fù)p特性。OCI具有較高空間分辨與回?fù)p測(cè)量精度,可以快速并準(zhǔn)確地獲取全鏈路任意位置的回?fù)p特性。
如圖所示為平面波導(dǎo)延遲線。選取芯片中心0.2m長(zhǎng)度區(qū)域計(jì)算回?fù)p,其值為-57.95dB。同樣,研究人員也可通過(guò)OCI測(cè)量光纖與硅光芯片耦合點(diǎn)回波損耗來(lái)評(píng)估耦合效率。
3. 光纖長(zhǎng)度測(cè)量
OCI在50m測(cè)量范圍內(nèi)空間分辨率為10μm,非常適用于高精度光學(xué)延時(shí)測(cè)量領(lǐng)域,如光纖延時(shí)、硅光延時(shí)、空間光路延時(shí)以及邁克爾遜干涉儀的精準(zhǔn)測(cè)量。
4. 啁啾光柵光譜及延時(shí)測(cè)量
OCI采用掃頻光源,覆蓋C+L波段,根據(jù)氣體吸收線定位波長(zhǎng),可以實(shí)現(xiàn)1pm光譜測(cè)量精度和1ps群延時(shí)測(cè)量精度。
以啁啾光柵為例,測(cè)量距離-反射率曲線、光譜及延時(shí)曲線,測(cè)量空間分辨率為10μm。
根據(jù)延時(shí)曲線測(cè)量結(jié)果,可以計(jì)算出光柵的平均色散補(bǔ)償系數(shù)為11.1979ps/nm。
昊衡科技始終秉持著“技術(shù)感知世界”的使命,將不余遺力的堅(jiān)持創(chuàng)新創(chuàng)造,勵(lì)志打破國(guó)外技術(shù)壟斷,將國(guó)產(chǎn)OFDR技術(shù)推向世界。
昊衡科技:
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司,專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā),也是國(guó)內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測(cè)量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測(cè)試?,F(xiàn)已與全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系,并取得諸多成果。了解更多詳情,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)昊衡科技網(wǎng)站http://www.mega-sense.com/。