含硅納米線芯片能無創(chuàng)診斷胎盤疾病

  ICC訊 據(jù)英國《自然·通訊》雜志3日發(fā)表的一篇醫(yī)學(xué)研究論文，中美科學(xué)家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進(jìn)行了大幅優(yōu)化，新芯片包含很細(xì)的硅納米線，可針對胎盤植入譜系（PAS）疾病進(jìn)行無創(chuàng)早期診斷，這種疾病會(huì)導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中死亡。

  胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，具體是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時(shí)無法脫落。這會(huì)造成嚴(yán)重出血，甚至有時(shí)會(huì)導(dǎo)致孕產(chǎn)婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時(shí)依然會(huì)出現(xiàn)不夠準(zhǔn)確的情況，抑或是在資源匱乏的地區(qū)難以實(shí)現(xiàn)。

  此次，包括美國加州大學(xué)洛杉磯分校、中國深圳人民醫(yī)院等機(jī)構(gòu)研究人員在內(nèi)的團(tuán)隊(duì)，對之前開發(fā)的“NanoVelcro”芯片進(jìn)行了優(yōu)化，新芯片包含很細(xì)的硅納米線，外部涂有能檢測循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞（組成胎盤的細(xì)胞）的抗體。這些細(xì)胞會(huì)在胎盤發(fā)育過程中單個(gè)或聚集脫落到母體血液循環(huán)中，細(xì)胞數(shù)量的增加可能提示胎盤植入譜系疾病。

  研究團(tuán)隊(duì)對168位孕婦進(jìn)行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜系疾病，有些被診斷為胎盤前置（胎盤覆蓋宮頸內(nèi)口），有些胎盤形成正常。團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)，PAS組的單個(gè)和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞計(jì)數(shù)比其他兩個(gè)組更高。同時(shí)，研究還發(fā)現(xiàn)，單個(gè)和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞的數(shù)量，有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區(qū)分出來。

  研究人員指出，現(xiàn)在需利用更大樣本開展進(jìn)一步研究。胎盤植入譜系疾病會(huì)導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中出現(xiàn)非常嚴(yán)重的狀況，而這種新的診斷技術(shù)則有望在不久的將來補(bǔ)充現(xiàn)有技術(shù)，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準(zhǔn)確性。

  總編輯圈點(diǎn)

  老話說，產(chǎn)婦是“鬼門關(guān)上走一遭”，隨著醫(yī)學(xué)不斷進(jìn)步，孕產(chǎn)婦生命已得到極大程度的保護(hù)。但胎盤植入，仍是產(chǎn)科少見但非常兇險(xiǎn)的并發(fā)癥，如不及時(shí)果斷處理，依然會(huì)危及產(chǎn)婦生命。這一疾病在近年來發(fā)病率呈上升趨勢，因此我們很高興看到，一種能及早診斷并阻止危險(xiǎn)發(fā)生的技術(shù)手段，正走向?qū)嵱谩?