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浦芮斯磁光開關(guān)通過歐洲太空總署測試

摘要:近日獲悉,浦芮斯磁光開關(guān)全面通過歐洲太空總署(European Space Agency,簡稱ESA)的測試。在全球參選的共四家企業(yè)中,僅浦芮斯一家中國企業(yè)。該項目是歐洲太空總署為驗證不含機(jī)械運(yùn)動部件的全固態(tài)光開關(guān)是否可以應(yīng)用于太空領(lǐng)域所組織的一次公開招標(biāo)邀請。

  ICCSZ訊 近日獲悉,浦芮斯磁光開關(guān)全面通過歐洲太空總署(European Space Agency,簡稱ESA)的測試。在全球參選的共四家企業(yè)中,僅浦芮斯一家中國企業(yè),來自美國的三家企業(yè)中有一家出現(xiàn)失效。該項目是歐洲太空總署為驗證不含機(jī)械運(yùn)動部件的全固態(tài)光開關(guān)是否可以應(yīng)用于太空領(lǐng)域所組織的一次公開招標(biāo)邀請。

  光開關(guān)由于可以提供簡潔的冗余配置、快速隔離、低速強(qiáng)度調(diào)制以及最基礎(chǔ)的光路切換功能,是許多光學(xué)系統(tǒng)的基本構(gòu)建單元,在太空領(lǐng)域有十分廣泛的應(yīng)用。ESA特別提到其涉及光開關(guān)使用的八類太空應(yīng)用:

  1. 二氧化碳監(jiān)控激光雷達(dá)

  2. 重力儀(波長750/1580nm)

  3. 光學(xué)傳感

  4. 數(shù)字通信

  5. 本地諧振分布

  6. 光學(xué)通信

  7. 光學(xué)點火技術(shù)

  8. 激光干涉儀

  不同技術(shù)類型的光開關(guān)已被成功應(yīng)用于地面應(yīng)用,比如光纖通信和光學(xué)傳感等。但對于將光開關(guān)應(yīng)用于太空領(lǐng)域所面臨的挑戰(zhàn)和可能帶來的幫助,ESA尚未進(jìn)行過全面的分析。傳統(tǒng)機(jī)械式光開關(guān)包括體光學(xué)技術(shù)和MEMS技術(shù),均須使用移動部件實現(xiàn)光的切換,其在可靠性和速度上的劣勢限制了其在太空領(lǐng)域的應(yīng)用。因此,本次公開招標(biāo)比選測試限定于全固態(tài)光開關(guān),由TUV Nord子公司Alter Technology、馬德里理工大學(xué)和ESA聯(lián)合進(jìn)行,考慮技術(shù)方案包括:體電光技術(shù)、波導(dǎo)電光技術(shù)、磁光技術(shù)、聲光技術(shù)、液晶技術(shù)以及熱光技術(shù):

  熱光技術(shù)由于沒有商業(yè)化產(chǎn)品,放棄;

  液晶技術(shù)只能以定制品進(jìn)行測試,無法直接獲得,且無供應(yīng)商愿意參與,放棄;

  聲光技術(shù)損耗大于3dB,驅(qū)動電路過于復(fù)雜,放棄;

  最終僅三種技術(shù)/四家企業(yè)確認(rèn)進(jìn)入比選,磁光技術(shù)(浦芮斯、Agiltron)、體電光技術(shù)(Agiltron、BATi)和波導(dǎo)電光技術(shù)(Epiphotonics)。

  測試方案簡列如下:

  光學(xué)/電學(xué)指標(biāo)測試:插損、串?dāng)_、速度、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振消光比(PER)

  機(jī)械性能測試:振動、沖擊

  真空溫度循環(huán)測試

  輻照測試

  破壞性物理分析

 一:振動測試

  所有產(chǎn)品在三個正交軸方向均持續(xù)振動三分鐘,同時光開關(guān)以大致10秒的周期進(jìn)行切換。振動參數(shù)如下表:

  振動測試現(xiàn)場和X軸隨機(jī)振動截面如下圖:

  圖一:振動測試現(xiàn)場

  圖二:X軸隨機(jī)振動截面

  針對所有產(chǎn)品的光學(xué)輸出在線測試“開”和“關(guān)”兩個狀態(tài),從而可以得到插損和串?dāng)_。所有產(chǎn)品順利通過了該測試,結(jié)果如下圖:

  圖三:X軸振動中樣品光學(xué)輸出在線監(jiān)控曲線

 二:SRS沖擊測試

  所有產(chǎn)品在三個正交軸方向均進(jìn)行500g半正弦1毫秒脈沖沖擊測試。所有產(chǎn)品在沖擊測試之后沒有觀察到光學(xué)/電學(xué)性能的變化。唯獨(dú)EpiPhotonics公司產(chǎn)品出現(xiàn)損傷,其輸入端脫落。

  三:真空溫度循環(huán)測試

  所有產(chǎn)品置于真空爐內(nèi)進(jìn)行高低溫循環(huán)測試,具體參數(shù)如下表:

  真空溫循測試現(xiàn)場和光學(xué)輸出的監(jiān)測結(jié)果如下圖:

  圖四:真空溫循測試現(xiàn)場

  圖五:真空溫循中光學(xué)輸出在線監(jiān)測曲線

  四:輻照測試

  Gamma輻照測試在坐落于西班牙Seville的國家加速器中心(CAN)進(jìn)行:輻照劑量速率約210rad/(Si)h,累積劑量約100krad/(Si),耗時約480小時。測試期間在線測量產(chǎn)品的光學(xué)輸出,測試現(xiàn)場和監(jiān)測結(jié)果如下圖:

  圖六:Gamma輻照測試現(xiàn)場

  圖七:輻照中光學(xué)輸出在線監(jiān)測曲線

  由于國家加速器中心的正常運(yùn)營時間所導(dǎo)致的測試過程中的輻照中斷干擾在圖中以黑點標(biāo)識,這些中斷干擾累積不超過2小時。可以觀察到,輻照中斷干擾確實會對光開關(guān)的輸出光功率產(chǎn)生影響,主要是的光開關(guān)的“關(guān)”狀態(tài),也就是說串?dāng)_易受干擾。

 五:破壞性物理分析

  最后對被測樣品進(jìn)行了破壞性的物理拆解分析。只有來自EpiPhotonics的產(chǎn)品在沖擊測試中輸入光纖斷裂。

  以測試過程中每種產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)方差為測試不確定度,然后將具體測試完成之后每個參數(shù)相對于該不確定度的偏離與該不確定度進(jìn)行比較;并使用學(xué)生t-分布技術(shù)進(jìn)行統(tǒng)計分析,從而得出該項測試能否通過的明確判據(jù)。依據(jù)該標(biāo)準(zhǔn),除開以上提到的來自EpiPhotonics的產(chǎn)品之外,所有參選產(chǎn)品通過了所有測試。

 總結(jié)

  1.對于要求較高的開關(guān)速度的應(yīng)用來說,體電光技術(shù)表現(xiàn)得比磁光技術(shù)稍好;然而其串?dāng)_較差;

  2.磁光技術(shù)展現(xiàn)了卓越的全方面性能,除開切換速度以外。而且該技術(shù)商業(yè)化程度很高;

  3.波導(dǎo)電光技術(shù)速度很快。它所顯示的機(jī)械性能故障相信可以解決,然而其過于復(fù)雜,難以操作,且損耗過大,而且其快速響應(yīng)性能同樣可以在體電光技術(shù)上獲得,因此不推薦該技術(shù)用于太空領(lǐng)域;

  4.相比較輻照和振動,光開關(guān)對溫度更敏感;

  5.并未發(fā)現(xiàn)在光開關(guān)的保偏版本和常規(guī)單模光纖版本之間有區(qū)別;

  6.并未發(fā)現(xiàn)在光開關(guān)的高功率版本和常規(guī)功率版本之間有區(qū)別;

  鑒于此,Alter Technology、馬德里理工大學(xué)和歐洲太空總署推薦:

  1.在太空領(lǐng)域使用體電光技術(shù)和磁光技術(shù)。體電光技術(shù)應(yīng)用于對開關(guān)速度有極高要求的場合,而磁光技術(shù)應(yīng)用于對串?dāng)_要求苛刻的領(lǐng)域;

  2.如欲獲得恒定的光功率輸出,建議對光開關(guān)進(jìn)行溫控。

內(nèi)容來自:浦芮斯
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