ICCSZ訊 9月6日至9月9日,中國光博會在深圳會展中心隆重開幕,領(lǐng)先的光電器件與模塊測試專家—武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司攜新產(chǎn)品隆重參展。3月份,訊石在武漢拜訪普賽斯時,特別介紹了SFP模塊四工位并行測試系統(tǒng),用于不同速率SFP模塊的性能測試,便于客戶操作,可以實現(xiàn)四個模塊同時檢測。
SFP模塊四工位并行測試系統(tǒng)
本次訊石來到普賽斯展臺1號館1F09,有看到了公司推出新的一系列產(chǎn)品:抽屜式老化測試系統(tǒng)、100G誤碼儀、BAR條自動測試系統(tǒng)、EML器件生產(chǎn)測試系統(tǒng)。除此以外,全系列光芯片、光器件、光模塊、光貓完整的測試設(shè)備與最新技術(shù)方案都在站臺上進(jìn)行了展示。那么下面就隨文章看看此次我們看到的重點產(chǎn)品的真容和具體功能吧。
1.抽屜式老化測試系統(tǒng)
簡介:
* 產(chǎn)品機(jī)身11層,每層4個抽屜,總共44個抽屜
* 機(jī)身金屬嚴(yán)格接地,上端有負(fù)離子風(fēng)機(jī),最大限度的保證COC和ESD的安全
* 內(nèi)置USP,保證異常斷電時客戶的chip的安全
* 適用于COC、BOX的封裝
優(yōu)勢:
* 抽屜式設(shè)計靈活方便
* 定位精準(zhǔn),加電可靠
* 穩(wěn)定性和安全性更好
2.LD TO器件的自動盤測系統(tǒng)
特點:
支持TO-CAN封裝激光器,常用供陽型和獨立型,多種管腳定義切換
可以和普賽斯化箱一體設(shè)備、分揀設(shè)備配套使用,提高工作生產(chǎn)、效率測試。
支持多種光譜儀接口,測試光譜特性
可靠的ESD/EOS防護(hù)
3.PIN/APD TO器件的自動盤測系統(tǒng)
用途:用來自動測試的64顆老化盤PIN/APD TO器件的綜合參數(shù)
功能:自動測試64顆器件的擊穿電流、暗電流、工作電流、響應(yīng)度、D+/D-等性能特性,具有高度集成、高速、高穩(wěn)定性的特點
4.EML器件的生產(chǎn)測試解決方案
64路EML器件的TE測試系統(tǒng)
特點:支持64盧EML TOSA器件的高溫、低溫、溫遍環(huán)境的LIV測試
電路設(shè)計安全可靠,保護(hù)被測器件
支持光譜儀借口,軟件顯示光譜測試結(jié)果
5.EML器件的老化監(jiān)控系統(tǒng)
特點:
給EML TO器件提供老化電流,實時監(jiān)控老化電流
EA電壓可設(shè),AC模式1K-10KHz
老化數(shù)據(jù)實時自動記錄
6.EML器件智能耦合電源
特點
PID快速溫度穩(wěn)定算法
EA電壓耦合可設(shè)
驅(qū)動模式豐富,檔位自動切換
適用于自動耦合機(jī)的驅(qū)動電源
7.EML器件的綜合測試系統(tǒng)
選配外置大面積PIN管,測試TO出光
軟件算法靈活選擇
軟件界面操作簡單,數(shù)據(jù)保存條件靈活
支持單顆器件的TE/TC測試
8.LD TO器件的老化監(jiān)控系統(tǒng)
特點:
可提供0-100mA的老化電流,溫度范圍最大可達(dá)170℃
可實時監(jiān)控背光電流,通過背光計算閥值變化
兩個獨立老化箱體,可配置老化不同產(chǎn)品
備至UPS電源,意外斷電保護(hù)
9.PIN/APD TO器件老化監(jiān)控系統(tǒng)
特點:
提供100uM~200mA的老化電流,支持10G/25G APD TO器件
實時同時監(jiān)控霸屏村VCC和APD的電流和電壓
兩個獨立老化箱體,可配置老化不同產(chǎn)品
溫度范圍可達(dá)170℃,內(nèi)置UPS電源,意外斷電保護(hù)。
10.三向/四向器件綜合測試系統(tǒng)
適用于兩發(fā)兩收、四端口器件,支持DML和EML發(fā)射
EML Tx端:閥值,LD正向電壓,MPD暗電流,MPD背光電流,光功率,EAPo,Vea,斜效率,KinK,TE,TC,Tx端功率LIV曲線,EA的P-V曲線等。
DFB TX端:閥值,LD正向電壓,MPD背光電流,MPD暗電流,光功率,EAPo,Vea,斜效率,KinK,TE,TC,Tx端功率LIV曲線,EA的P-V曲線等。
RX端:Vbr,Icc,暗電流,靈敏度,過載,響應(yīng)度,倍增,內(nèi)部光串?dāng)_,外部光串?dāng)_。
11.雙0°/45°自動貼波片系統(tǒng)
特點:高精度、高效率、高智能
看了這么多的產(chǎn)品,想必對普賽斯今年參展的亮點產(chǎn)品已經(jīng)有所了解,武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè),經(jīng)過幾年來的光器件產(chǎn)線測試儀器儀表的開發(fā)和完善,逐步完善了光通信、光纖傳感、半導(dǎo)體等器件的生產(chǎn)測試方案。產(chǎn)品涵蓋BAR條器件、LD-TO、PD-TO器件;TOSA、ROSA、BOSA等器件;光通信收發(fā)模塊;以及器件的老化等方向。目的是為光電器件生產(chǎn)的客戶提供完美的服務(wù)。
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