【CIOE2017】光纖高度，你還騙我多久？ --維勘科技最新3D測量技術(shù)誕生

　　ICCSZ訊 2017年是國內(nèi)光纖連接器端面3D全檢的元年。這一年包括華為、中興在內(nèi)的眾多企業(yè)開始要求下游的供應(yīng)商在生產(chǎn)光纖連接器時端面3D全檢。光纖端面3D干涉儀具備測量精度高、速度快、非接觸等優(yōu)點，被越來越多的廠家重視，成為檢驗光纖連接器生產(chǎn)品質(zhì)的重要手段。但是3D干涉儀精確測量的前提條件被很多人忽視了。

　　干涉技術(shù)在本質(zhì)上存在相位不確定問題，導(dǎo)致原理上將有一系列的光纖高度值與獲取的測量信號對應(yīng)，或者講，同樣的測量信號對應(yīng)于多個可能的光纖高度值。其特點是這一系列的高度值屬于一個等差數(shù)列，相差所用波長的一半的整數(shù)倍。假設(shè)使用波長為640nm，如果真實纖高限定在±160nm區(qū)間內(nèi)，則測量結(jié)果具有唯一性;如果真實纖高限定在±320nm區(qū)間內(nèi)，則測量結(jié)果有2個，依此類推，真實纖高越大，測量結(jié)果就越多。

　　3D指標中最難測量的就是光纖高度，光纖高度測量的難點在哪里呢?

　　3D指標中光纖高度是以納米為單位的，溫度、濕度、大氣壓強的變動都會影響光纖高度。連接器的生產(chǎn)工藝從固化、研磨到3D檢測只需要10分鐘時間，雖然研磨后測量纖高是合格的，但是當靜置24小時之后重新測量，會發(fā)現(xiàn)原來的合格品中有一部分光纖高度變化量超過100nm，導(dǎo)致纖高超出測量范圍。此時，傳統(tǒng)的光纖端面3D干涉儀受測量范圍的限制，無法給出準確的纖高測量結(jié)果，甚至會把不合格品誤判為合格品。

　　同一個連接器用不同方法測量，測量結(jié)果相差懸殊，究竟哪個測量結(jié)果是正確的呢?

　　在維勘科技公司創(chuàng)始人汪博士的帶領(lǐng)下，我們來到了浙江大學光電學院現(xiàn)代光學儀器國家重點實驗室，用物理接觸式測試儀對這個連接器進行了測量。

　　臺階儀測量結(jié)果：424nm;傳統(tǒng)干涉儀測量結(jié)果：83nm;增強干涉儀測量結(jié)果：400nm 注：臺階儀測量為最高點數(shù)值，3D干涉儀測量為平均數(shù)值。.

　　經(jīng)過不斷的優(yōu)化與驗證，杭州維勘科技股份有限公司最新研發(fā)的增強型光纖端面3D干涉儀完美解決了超高超低纖高測量的難題，測量范圍已經(jīng)擴大到了|7000nm|，更可貴的是測量速度僅為0.7秒。該產(chǎn)品已通過國家權(quán)威計量部門中國計量科學研究院的計量認證。

　　結(jié)論：

　　1、光纖連接器纖高超高超低現(xiàn)象還是很普遍的。

　　2、傳統(tǒng)的端面3D干涉儀無法測量超高超低纖高。

　　3、在現(xiàn)有生產(chǎn)工藝無法有效控制纖高的情況下，只有增強干涉儀纖高測量范圍才能保證光纖連接器的品質(zhì)。

　　新型干涉儀在第十六屆訊石光纖通訊市場暨技術(shù)專題研討會上隆重亮相，同時將在于第19屆中國國際光電博覽會，我們的展位在6號館6065、6066、6067展位，歡迎各位朋友蒞臨參觀指導(dǎo)。

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