CIOE 2020 | Santec亮相新一代波長可調(diào)諧激光器

  ICC訊 近日，在2020年CIOE中國光博會上，光通信測試測量領(lǐng)導者日本Santec公司（圣德科）攜最新測量儀器和系統(tǒng)方案隆重登場亮相，與光通信行業(yè)客戶展開交流與合作，為客戶的光器件研發(fā)生產(chǎn)提供專業(yè)測試測量意見，滿足當前客戶因光通信速率升級而產(chǎn)生的高端測量需求，新產(chǎn)品獲得場內(nèi)專業(yè)觀眾和客戶的高度關(guān)注與認可。

  Santec公司銷售總監(jiān)幺德全先生向訊石表示，日本Santec公司致力于光通信技術(shù)的革新、探索世界和分享信息。為響應(yīng)廣大客戶在各領(lǐng)域中的應(yīng)用需求，Santec在激光器技術(shù)研發(fā)方面成功地實現(xiàn)了實用化，成功于1987年成功研發(fā)出世界首臺商用波長可調(diào)諧光源。同時Santec對于快速掃描測試系統(tǒng)有著嚴格的測試標準，利用以高分辨率和高精度為標準的高速分析測試解決方案。2001年，日本Santec成立圣德科(上海)光通信有限公司，以更好地服務(wù)中國地區(qū)客戶。

  Santec公司產(chǎn)品專家曹旭也向訊石介紹，公司在本次光博會上帶來了最新版本的第7代高性能、高速TSL-770波長可調(diào)諧激光器，該產(chǎn)品基于Santec公司多年的經(jīng)驗與實踐，通過重新設(shè)計激光諧振器 以及控制電路，掃描速度是之前的機型的2倍，帶寬掃描為1.5倍，并且實現(xiàn)了窄光譜線寬度和低噪聲化的轉(zhuǎn)折型號。

  據(jù)訊石了解，TSL-770的波長范圍最大可選160nm，提升了測量的產(chǎn)量及精度。是評價現(xiàn)場、研發(fā)、基礎(chǔ)研究等各種應(yīng)用程序中理想光源。在降低光學噪聲方面，TSL-770大幅度提升了外腔激光器的Q值和波長穩(wěn)定性。據(jù)此，此光源可在硅基光電電子學、光學和光干涉測量，光譜分析等研究領(lǐng)域。

  同時，Santec公司還展出市場代表型號TSL-550波長可調(diào)諧激光器，TSL-550是高性價比的Santec波長可調(diào)諧光源，具有高光功率和穩(wěn)定性。該型號采用最新腔體設(shè)計實現(xiàn)了更低的ASE噪聲，將信噪比特性提到90dB/0.1nm，同時兼顧了超過+10dBm的光輸出功率。

  TSL-550是光器件尤其是密集型波分復(fù)用類的無源器件、波長選擇開關(guān)(WSS)等需要兼顧功率計噪聲影響的高要求產(chǎn)品測試的理想選擇。相對上一代產(chǎn)品，TSL-550使重復(fù)掃描所需時間減半，同時搭配Santec公司功率計、偏振控制器等可以輕松實現(xiàn)WDL、PDL等參數(shù)的測試。

  除此之外，Santec公司還向其客戶介紹了快速掃描測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)結(jié)合Santec公司的TSL系列可調(diào)諧激光器與光功率計(MPM-210或MPM-200)、數(shù)據(jù)模塊(PCU-100)和自定義軟件，組成完整的掃描測試系統(tǒng)，可以優(yōu)化WDL和PDL測量用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

  此系統(tǒng)也可簡化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學的功率計或探測器，可廣泛用于WDL測試。通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。

  公司還向訊石表示，該系統(tǒng)通過實時記錄可以同時獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過DUT的傳輸功率，從而精確計算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過快速掃描和精確測量可有效節(jié)省時間，以確保測試設(shè)備的完整性和有效性。