FA耦合面測量

  ICC訊 45°FA利用端面全反射使光路90°轉(zhuǎn)角與VCSEL或者PD耦合，這種方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工藝有較大難度，工藝制造成本高，生產(chǎn)良率不高。

  光纖轉(zhuǎn)90°FA通常與硅光芯片中的光柵進(jìn)行耦合，不過直接對準(zhǔn)耦合，會存在一定的角度失配，盡管國內(nèi)廠商經(jīng)過這幾年的努力與克服，已有不少廠家能夠批量制造提高良率，但FA耦合面檢測一直是通信行業(yè)所關(guān)注的熱點(diǎn)話題。

OLI光纖微裂紋檢測儀

  FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模塊、硅光芯片等等，這些器件級的檢測對設(shè)備要求非常高。OLI光纖微裂紋檢測儀，專門針對這種微小尺寸的檢測，空間分辨率高達(dá)10微米，能實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化。

OLI測量FA耦合面

  多芯FA耦合面測量，測試結(jié)果顯示該耦合位置回?fù)p為-62dB，耦合情況良好。

  昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測儀，能精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)、耦合面以及鏈路連接點(diǎn)，以亞毫米級別分辨率探測光學(xué)原件內(nèi)部，廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話光纖傳感”