昊衡科技：OFDR測(cè)試光纖鏈路大插損-怎么測(cè)？

  ICC訊 高分辨率光學(xué)鏈路診斷儀(OCI)基于光頻域反射技術(shù)(OFDR)，能輕松測(cè)試出光纖鏈路損耗情況。OFDR測(cè)試插損方式為，依據(jù)事件點(diǎn)兩側(cè)瑞利散射信號(hào)幅值差異，其高分辨率特性可以定位到厘米級(jí)損耗點(diǎn)。

圖1.高分辨光學(xué)鏈路診斷儀(OCI)

  借助環(huán)形器測(cè)試大插損光路

  測(cè)試樣品為可調(diào)光衰減器，測(cè)試鏈路如圖2所示：

圖2.借助環(huán)形器測(cè)試大插損裝置示意圖

  OCI測(cè)試整個(gè)光鏈路結(jié)果如圖3，距離-回?fù)p曲線在2.95719m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值，對(duì)應(yīng)整個(gè)光傳輸鏈路。由于OCI儀器默認(rèn)顯示為反射式測(cè)量，而本鏈路中借助環(huán)形器是透射式測(cè)量，因此實(shí)際鏈路長(zhǎng)度為顯示距離的兩倍5.91438m。該位置積分回?fù)p為-25.69dB，是環(huán)形器和可調(diào)光衰減器單向累積損耗總和。

圖3.OCI測(cè)試環(huán)形器連接可調(diào)光衰減器結(jié)果圖

  使用OCI單獨(dú)測(cè)試光纖環(huán)形器，損耗測(cè)試裝置如圖4。

圖4.環(huán)形器損耗測(cè)試裝置示意圖

圖5.OCI測(cè)試環(huán)形器結(jié)果圖

  測(cè)試結(jié)果如圖5，從圖中可以看出距離-回?fù)p曲線在1.86088m位置出現(xiàn)最大回?fù)p峰值(實(shí)際光纖環(huán)形器光鏈路長(zhǎng)度為3.72176m)，回?fù)p為-2.55dB，是環(huán)形器單向累積損耗總和。因此可調(diào)光衰減器插損為23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。使用功率計(jì)測(cè)試可調(diào)光衰減器插耗，測(cè)試裝置如圖6，測(cè)得可調(diào)光衰減器插耗為23.33dB，OFDR測(cè)量結(jié)果與功率計(jì)測(cè)量結(jié)果僅相差0.19dB。

  圖6.功率計(jì)測(cè)試可調(diào)光衰減器損耗裝置示意圖

  改變可調(diào)光衰減器插損，按照上述方法分別用OCI和功率計(jì)測(cè)試可調(diào)光衰減器插損值，下表為10次測(cè)量可調(diào)光衰減器插損值對(duì)比表。

表1.OCI和功率計(jì)測(cè)試插損對(duì)比表

      從表1可以看出OCI和功率計(jì)測(cè)試可調(diào)光衰減器插損對(duì)比誤差不超過0.3dB，且OCI測(cè)試值均比功率計(jì)測(cè)試值大，這是由于功率計(jì)測(cè)試鏈路時(shí)，比OCI測(cè)試鏈路多一個(gè)FC法蘭。借助光纖環(huán)形器，OCI可以透射式測(cè)量大插損鏈路總體損耗，測(cè)試結(jié)果和功率計(jì)測(cè)試結(jié)果對(duì)比準(zhǔn)確。