WDM器件隔離度測試，你想知道的，都在這里！

  01 背景

  波分技術很早就已經在干線傳輸大規(guī)模應用，目前隨著5G建設的深入，前傳網絡越來越多的引入CWDM技術。其中CWDM 合波器（MUX）/分波器（DEMUX）器件是其中十分重要的組件，其光學性能將直接影響5G前傳網絡質量。

  02 標準

  2.1 ITU-T定義

  WDM 合波器（MUX）/分波器（DEMUX）器件的相關參數(shù)在ITU-T G.671標準中被嚴格定義、解釋。ITU-T G.671全稱為“Transmission characteristics of optical components and subsystems”，它涵蓋了光網絡中涉及到的各種光器件和子系統(tǒng)，包括OADM，合波器（MUX）/分波器（DEMUX），光濾波器，隔離器，光開關等等，詳細規(guī)定了和傳輸性能相關的每類器件的整套參數(shù)，并對各項參數(shù)做出定義。

  如下圖所示，ITU-T G.671對于WDM器件相鄰通道隔離度、非相鄰通道隔離度概念的圖形解釋。

圖1：ITU-T G.671關于相鄰通道隔離度的圖解

圖2：ITU-T G.671關于非相鄰通道隔離度的圖解

  從數(shù)學表述上，隔離度的定義如下：

  對于頻率相鄰的兩個信號λw和λx，相鄰隔離度ISOLwx = ILmin(λw) - ILmax(λx)

  式中ILmax(λx)是λx光信號在λx通道輸出端口上的最大插入損耗， ILmin(λw)是λw光信號在λx通道輸出端口上的最小插入損耗。

  2.2 國標GB/T 20440

  關于WDM器件的測試，國內主要參考標準是國標GB/T 20440-2006 《密集波分復用器/解復用器技術條件》。在該標準中，規(guī)范了隔離度測試方法。

圖3：GB/T 20440 相鄰通道隔離度/非相鄰通道隔離度測試方框圖

  如圖所示，使用連續(xù)可調諧激光源進行測試，最后得到每個端口的譜損特性，從譜損曲線計算相鄰/非相鄰通道隔離度。該方法嚴格保持了和ITU-T隔離度參數(shù)定義一致。

圖4：GB/T 20440 相鄰通道隔離度/非相鄰通道隔離度定義示意圖

  03 測試方法

  3.1 可調諧激光器掃頻系統(tǒng)

  如下圖所示，可調諧激光器采用掃頻方式工作，最終得到被測器件每個端口的連續(xù)插損譜，從工作方式上完全和國標一致。功率計陣列的每個端口并行采集數(shù)據(jù)，大大提高了測試效率。

圖5：可調諧激光器掃頻系統(tǒng)示意圖

  掃頻系統(tǒng)中，可調諧激光器的波長在一定范圍內連續(xù)變動，觸發(fā)系統(tǒng)會觸發(fā)外部功率計陣列，測試速度很高。為提高波長精度，觸發(fā)系統(tǒng)還可包含波長計裝置。如果系統(tǒng)光路中集成偏振控制器，回損計，還可同時完成PDL，ORL測試。

  3.2 光譜分析儀

  無論ITU-T G.671還是GB/T 20440都是從合/分波器的連續(xù)插損譜入手，最終得到相鄰/非相鄰通道隔離度。所以從原理上，還有另外一種替代測試方法，寬帶光源和光譜分析儀。該方法光源采用具有連續(xù)譜輸出的寬帶光源，光譜分析儀則進行功率譜測試，通過光源參考，也得到被測器件的插損譜。

圖6：寬帶光源和光譜分析儀測試示意圖

  和掃頻系統(tǒng)相比，一般情況下，寬帶光源采用SLED，ASE光源，功率譜密度較低，同時受限于光譜分析儀的最低探測功率，插損譜的深度有限，一定程度上會影響到隔離度的測試精度。

  3.3 測試方法的選擇

  下表從不同方面比較了前面兩種測試方法的優(yōu)劣。

  總的來說，對于合/分波器的測試，可調諧激光器掃頻系統(tǒng)比較適合實驗室，器件生產環(huán)節(jié)來使用。光譜分析儀的方式比較適合工程測試。

  3.4 常見的錯誤測試方法

  對于合/分波器的隔離度測試，常見的一種錯誤測試方法如下圖。

  該方法將可調諧激光器簡化為不連續(xù)的點光源，僅調諧到幾個通道標稱波長上，得到有限的幾個波長下的插損值，通過幾個插損值的比較計算隔離度。所以這種方法不是從連續(xù)的插損譜入手進行隔離度測試，不符合標準要求。

  另外，在越來越多的測試實踐中，發(fā)現(xiàn)該簡化的測試方法存在如下問題：

  1、僅計算標稱波長點的相鄰通道的插損差異，光源譜寬較小情況下，測試結果優(yōu)于嚴格的隔離度定義。如下圖所示，僅按紅色點插損值計算隔離度。

圖8：標稱波長點的隔離度

  2、工程上，可調激光器更簡單化為波分設備的OTU光源。首先測試方式仍然屬于點光源，存在與第一個相同的定義問題，其次是該點光源不符合要求，光譜過寬。

  3、40G，100G波分系統(tǒng)OTU光譜大于通道寬度。工程驗收測試中，該簡化方法得到的隔離度結果給相關單位帶來很大困擾。

  建議規(guī)范測試方法，嚴格按合/分波器的連續(xù)插損譜來測試隔離度，避免錯誤發(fā)生。

  04 測試方案

  EXFO 能夠提供完整的合/分波器測試方案。

FTBx-5245光譜分析儀

  FTBx-5245光譜分析儀能夠完全工程測試需求。

CTP10-無源器件測試平臺

 

  CTP10模塊化測試平臺是一種多端口，高密度的WDM器件測試工具。結合T100S可調諧激光器，CTP10采用掃頻方式獲得器件IL/PDL/ORL譜特性，是實驗室，制造業(yè)器件測試的理想之選。

T100S-HP - 高功率可調諧激光器

 

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  參考文獻

  ITU-T G.671《Transmission characteristics of optical components and subsystems》02/2001

  ITU-T G.671 《Transmission characteristics of optical components and subsystems》06/2002

  ITU-T G.671 《Transmission characteristics of optical components and subsystems》08/2019

  YD/T 1159-2001 《光波分復用（WDM）系統(tǒng)測試方法》

  YD/T 1159-2016 《光波分復用（WDM）系統(tǒng)測試方法》

  GB/T 20440-2006 《密集波分復用器/解復用器技術條件》

  YD/T 2147-2010 Nx40G bit/s光波分復用（WDM）系統(tǒng)測試方法

  YD/T 2649-2013 Nx100G bit/s光波分復用（WDM）系統(tǒng)測試方法