ICC訊 三星電子內(nèi)部公布一樁涉及現(xiàn)有和前員工的造假丑聞,據(jù)稱,這些員工參與了偽造該公司3/4/5納米節(jié)點的半導(dǎo)體制造良率信息。在這些節(jié)點被批準用于為三星以及第三方芯片設(shè)計公司大規(guī)模生產(chǎn)邏輯芯片后,三星高層觀察到了比預(yù)期更低的產(chǎn)量,丑聞才得以曝光。
隨后,三星電子罕見針對晶圓代工良率一事展開內(nèi)部審查,傳除了懷疑相關(guān)人士提出不實報告外,也計劃擴大深入調(diào)查大筆用于提升良率的資金到底流向何方。
據(jù)韓媒Infostock Daily報導(dǎo),三星最近罕見針對半導(dǎo)體事業(yè)暨裝置解決方案(Device Solutions;DS)部門經(jīng)營診斷,焦點傳放在非內(nèi)存3/4/5納米良率問題。消息人士透露,三星晶圓代工近日苦于低良率;盡管訂單不斷涌入,交貨時間卻不斷延后,就連三星高層都開始懷疑,晶圓代工良率是不是過低,著手展開了解。
傳DS部門最近的經(jīng)營診斷重點,瞄準DS部門現(xiàn)任及前任高層人士,包含先前繳交的制程良率報告是否不實,以及提升良率的巨額資金,是否獲得正確使用。
業(yè)界相關(guān)人士表示,三星罕見對晶圓代工事業(yè)進行經(jīng)營診斷,意味進入3納米、4納米等先進制程大不易,值得相關(guān)投資者、業(yè)界,密切關(guān)注情勢發(fā)展。對于業(yè)界種種傳聞,三星相關(guān)人士僅表示,經(jīng)營診斷為例行事務(wù),對于目前正在討論的事項、日程及相關(guān)內(nèi)容,不便多加透露。
新聞來源:Digitimes